破坏现状
XX
XX 小时
XX 分钟
XX
Fischer Logo

打破
现状。

携手Fischer,体验首个且唯一采用人工智能技术的XRF解决方案。‌‌

体验FISIQ® X
的强大力量——由人工智能驱动‌

有史以来最新的最准确和最智能的XRF软件。

首个采用人工智能技术的
XRF解决方案。

升级后的光谱模式使分析和比较光谱更容易、更方便,并提供广受青睐的快速批量分析功能。

opacity0055101015152020252530303535Energy (keV)Energy (keV)15001500200020000010001000500500Intensity (cps)Intensity (cps)High Voltage50kVFilterAl1000Anode Current400 µACollimatorCircle 0.6mmAtmosphereAirMeas. Time20sMeas. DistanceDeadtime10mm3%Fast countrateSlow countrate12565321218836CuZnAuAg

改进的算法引擎,可获得更快、更准确的结果。

即使在最具挑战性的测量任务中,也具有出色的稳定性、准确性和最高的可重复性。新的改进算法引擎在涂镀层厚度测量方面计算结果的速度提高了6倍¹,在材料分析方面提高了13倍²。

速度对比

WinFTM®6算法
计算速度
FISIQ® X 改进涂层厚度算法¹
速度提升6
FISIQ® X,改进的材料分析算法
速度提升13
¹Au/Pd/Ni/CuFe涂层系统的测量。WinFTM®6和FISIQ® X的计算时间比较. ²对含有9种不同元素的黄金合金层进行材料分析。WinFTM®6和FISIQ® X的计算时间比较.

全新现代风格
的用户界面。‌

聚焦核心功能,直观设计更易用。基于工作流程优化的简化界面显著降低操作负担。‌

通过简化和高效的工作流程提高你的生产力。

标准化的校准工作流程指南以及精细的搜索和过滤功能使您可以轻松访问以前的项目。

1.轻松创建校准
1.从任务栏选择程序
1.放置你的样品
1.选择数据组
2.从库中选择标准
2.放置你的样品
2.测量光谱
2.选择报告模板
3.测量标准
3.启动测量程序
3.获得即时的元素识别
3.一键导出
4.校准成功
4.毫不费力地审查结果
4.查看与光谱显示的浓度
4.自动生成的PDF

准确的结果。

我们的测量程序确保准确和记录的结果,对用户的影响最小,即使是没有经验的用户。

用户角色管理。

确保测量的正确执行和记录,即使是没有经验的用户也能做到。这就把用户对测量结果的影响降到了最低。

优化距离控制。

测量值始终精准可靠且稳定——无论测量距离远近,结果始终如一‌

Step into the future.

Get ready to explore the future of FISIQ® X. Stay ahead of the curve as we reveal the latest innovations and improvements coming your way.

Consetetur Sadipscing elitr

Lorem ipsum dolor sit amet, consetetur sadipscing elitr, sed diam nonumy eirmod tempor invidunt ut labore.

Silt Sadipsci

Lorem ipsum dolor sit amet, consetetur sadipscing elitr, sed diam nonumy eirmod tempor.

Lorem elitra nonumy

Lorem ipsum dolor sit amet, consetetur sadipscing elitr, sed diam nonumy eirmod tempor invidunt ut labore.

Lore tempoa

Lorem ipsum dolor sit amet, Coming Soon.

Diam nonumy eirmod tempor

Lorem ipsum dolor sit amet, consetetur sadipscing elitr, sed diam nonumy eirmod tempor.

要智能。 要快速。 要高效。

......与Fischer携手打破现状‌。

即刻探索由人工智能驱动的先进FISIQ® X软件。

请随时留下您的联系信息。我们会尽快给你答复。