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個人情報保護方針

XRFソリューション
の新常識

フィッシャーのAI技術を搭載した唯一無二のXRFソリューション。

AI搭載のFISIQ® Xの力を、
ぜひ動画でご覧ください。

最先端の知能と最高の精度を備えたXRFソフトウェア。

AI技術を搭載した
初のXRFソリューション

アップグレードされたスペクトルモードにより、スペクトルの分析と比較がより簡単かつ便利になり、迅速なバルク分析に最適なオプションが提供されます。

opacity0055101015152020252530303535Energy (keV)Energy (keV)15001500200020000010001000500500Intensity (cps)Intensity (cps)High Voltage50kVFilterAl1000Anode Current400 µACollimatorCircle 0.6mmAtmosphereAirMeas. Time20sMeas. DistanceDeadtime10mm3%Fast countrateSlow countrate12565321218836CuZnAuAg

改善されたアルゴリズムエンジンにより、より高速で正確な結果が得られます。

優れた安定性、精度、そして最高の再現性を提供します。最も困難な測定タスクでも確実に結果を得られます。新しく改良されたアルゴリズムエンジンにより、膜厚測定は最大6倍速く、素材分析は最大13倍速く測定できます²。

速度比較

WinFTM®6アルゴリズム
計算速度
改良された膜厚アルゴリズムを搭載したFISIQ® X¹
最大6倍速く
改良された素材分析アルゴリズムを搭載したFISIQ® X
最大13倍速く
¹Au/Pd/Ni/CuFe層膜の測定。WinFTM®6とFISIQ® Xの計算時間の比較。< ²²9種類の元素を含む金合金層の素材分析。WinFTM®6とFISIQ® Xの計算時間の比較。

現代的で新しいユーザーインターフェース

直感的なデザインで、より集中できる環境を提供します。シンプルでワークフローに基づいたユーザーインターフェースが作業の効率を向上させます。

シンプルで効率的なワークフローで、生産性を向上させます。

標準化されたキャリブレーションワークフローと詳細な検索・フィルタ機能で、過去のプロジェクトに簡単にアクセスできます。

1. キャリブレーションを簡単に作成
1. タスクバーからプログラムを選択
1. サンプルを配置
1. 結果ブロックを選択
2. ライブラリから標準板を選択
2. サンプルを配置
2. スペクトルの測定
2. レポートテンプレートを選択
3. 標準板を測定
3. 測定プログラムを起動
3. 即時の元素の特定
3. ワンクリックで出力ワンクリックで出力
4. キャリブレーション完了
4. 結果を簡単に確認
4. スペクトルで表示された濃度の確認
4. PDFが自動で作成される

正確な測定結果

測定プログラムは、経験の少ないユーザーでも最小限の操作で正確かつ文書化された結果を保証します。

ユーザーの役割管理

測定の正確な実行と文書化を保証し、経験の少ないユーザーでも使用できます。これにより、測定結果へのユーザーの影響を最小限に抑えます。

改善された測定距離の制御

測定距離に関係なく、常に信頼性の高い正確で安定した測定値を提供します。

Step into the future.

Get ready to explore the future of FISIQ® X. Stay ahead of the curve as we reveal the latest innovations and improvements coming your way.

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お気軽にお問い合わせください。できるだけ早くお返事させていただきます。